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測量技術——干涉法,三坐標知識分享
發布時間:2018-09-27 11:55:23
適用于平面度要求較高的小平面。如圖7-11所測量時,將平晶貼在工件的被測表面上,觀察干涉條紋。封閉的干涉條紋數乘以光波波長之半即為平面度誤差。干涉條紋越少則平面度越好。
青島三鼎測量設備有限公司
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